Zwei neue EDX-Detektoren des Typs X-Flash® 6-60 von der Bruker Nano GmbH ergänzen seit Kurzem das Rasterelektronenmikroskop (REM) des IKS Dresden. Gegenüber den zuvor verbauten EDX-Detektoren zeichnet sich die neue Generation Detektoren wie folgt aus:
- Höhere Energieauflösung, die zu einem Informationsgewinn durch bestmögliche Peak-Trennung und genauere Quantifizierung führt.
und - Halbierung der Messzeit bei gleichzeitig höherer Auflösung aufgrund der Verdopplung der Fenstergröße der neuen Detektoren gegenüber der alten Generation.
Die Gerätekombination aus Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop FESEM Sigma VP der Carl Zeiss NTS GmbH und EDX-System Quantax 400 mit zwei EDX-Detektoren X-Flash® 6-60 der Bruker Nano GmbH findet am IKS Dresden für die Korrosionsanalyse und Korrosions(schutz)forschung zahlreiche Anwendungen (Details s. https://iks-dresden.de/wp-content/uploads/Institut/FESEM-EDXneu.pdf).
Kommen Sie gerne auf uns zu, wenn Sie Interesse an REM/EDX-Untersuchungen haben und profitieren Sie von unseren kurzen Bearbeitungszeiten.
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