Auflicht­mikroskopie
Zeiss Axio Observer.Z1m

Die Auflichtmikroskopie ist das Standardverfahren der Metallographie: Am eingebetteten und polierten Querschliff werden Gefüge, Überzüge und Korrosionsangriff im Mikrometerbereich sichtbar.

Am IKS steht dafür das inverse Auflichtmikroskop Axio Observer.Z1m von Zeiss im metallographischen Labor. Es wird für Gefügeuntersuchungen metallischer Werkstoffe, für die Bewertung von Korrosionsarten und für die Schichtdickenmessung an organischen Beschichtungen und metallischen Überzügen eingesetzt.

Typische Fragestellungen

Gefüge metallischer Werkstoffe: Korngröße, Phasen, Gefügefehler

Art und Tiefe eines Korrosionsangriffs: selektive Korrosion (Entzinkung, Spongiose), muldenförmige Korrosion, interkristalline Korrosion, z. B. an Aluminiumwerkstoffen

Entzinkungsbeständigkeit von Kupfer-Zink-Legierungen nach DIN EN ISO 6509-1 und Spannungsrisskorrosion nach DIN 50916-2 – Auswertung am Querschliff

Schichtdicke und Schichtaufbau organischer Beschichtungen und metallischer Überzüge im Querschliff

Anbindung und Grenzflächen von Zinküberzügen, Duplexsystemen und galvanischen Schichten

Schadensfälle: Rissverlauf, Korrosionsprodukte, Werkstofffehler

Messprinzip

Bei der Auflichtmikroskopie wird die Probe durch das Objektiv beleuchtet; das reflektierte Licht bildet die Oberfläche ab. Metallische Werkstoffe sind undurchsichtig, deshalb wird nicht durchstrahlt, sondern ein ebener, polierter Querschliff betrachtet. Gefügebestandteile werden durch Ätzen kontrastiert; Überzüge, Beschichtungen und Korrosionsprodukte unterscheiden sich meist bereits ungeätzt in Reflexionsgrad und Farbe. Die Baureihe Axio Observer ist nach Herstellerangabe für Auflicht-Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisationskontrast und differentiellen Interferenzkontrast mit zirkular polarisiertem Licht (C-DIC) ausgelegt.

Der Axio Observer.Z1m ist ein inverses Mikroskop: Die Probe liegt mit der Schlifffläche nach unten auf dem Objekttisch, das Objektiv befindet sich darunter. Eingebettete Proben liegen damit unabhängig von Höhe und Form plan in der Fokusebene; beim Wechsel von Vergrößerung oder Probe muss nicht neu fokussiert werden. Die Probenpräparation – Trennen, Einbetten, Schleifen, Polieren, Ätzen – erfolgt im metallographischen Labor des IKS mit Metallographieausrüstung von Struers; für empfindliche Schichtsysteme steht ergänzend die Ionenstrahlpräparation zur Verfügung. Die Aufnahmen werden digital erfasst und im Bild vermessen: Schichtdicken, Angriffstiefen, Korngrößen.

Ergebnisse

1  Gefügebilder
Dokumentation von Gefüge, Phasen und Gefügefehlern am geätzten Querschliff.

2  Korrosionsbewertung
Art des Angriffs und Angriffstiefe (Muldentiefe, Entzinkungstiefe, interkristalliner Angriff) mit Messwerten aus dem Bild; Korrosionsgrößen bei örtlicher Korrosion nach DIN 50905-3.

3  Schichtdicke
Dicke und Aufbau von Überzügen und Beschichtungen im Querschliff, Einzelschichten mehrlagiger Systeme; Schichtdicke von Beschichtungen nach DIN EN ISO 2808.

4  Prüfbericht
Bilder mit Maßstab, Messwerte und Bewertung; bei Bedarf ergänzt um Härteprüfung, REM/EDX oder Raman-Mikroskopie. In der Anlage zur DAkkS-Akkreditierungsurkunde D-PL-19138-01-00 geführt sind die Bestimmung der Entzinkungstiefe durch lichtmikroskopische Längenmessung am Querschliff (DIN EN ISO 6509-1, AS 2345), die Spannungsrisskorrosionsprüfung an Kupferlegierungen (DIN 50916-2, ISO 6957), die Korrosionsuntersuchungen nach DIN 50905-1 bis -3 und die Schichtdickenbestimmung an Beschichtungen nach DIN EN ISO 2808.

Anwendung: Materialographie, Schadensfallanalyse, Verzinkung und Galvanik, wasserführende Anlagen (Messing in Trinkwasser), Qualitätssicherung von Beschichtungen.

Weiterführend

Arbeitsfeld Materialographie Arbeitsfeld Wasserführende Anlagen Arbeitsfeld Elektrochemie Arbeitsfeld Verzinkung

Anfrage zu diesem Verfahren

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