FT-IR-Mikroskopie

Kombination aus Lichtmikroskop und FT-IR-Spektrometer: gezielte Infrarotanalyse ausgewählter Probenstellen.

Typische Fragestellungen

Identifizierung punktueller Verunreinigungen

Analyse kleiner Proben

Untersuchung einzelner Schichten im Querschliff

Diese Untersuchungen sind mit der klassischen IR-Spektroskopie nicht möglich.

Messprinzip

Das IR-Mikroskop kombiniert ein klassisches Lichtmikroskop mit einem FT-IR-Spektrometer. Über das Lichtmikroskop werden die Stellen der Probe angefahren, die von besonderem Interesse sind; diese werden unmittelbar anschließend per IR-Messung analysiert.

Die Kombination beider Methoden erlaubt eine präzisere Einstellung und Probenauswahl als beim klassischen IR-Spektrometer.

Ablauf der Messung

  1. Auswahl der Messstelle unter dem Lichtmikroskop
  2. FT-IR-Messung an genau dieser Stelle
  3. Abgleich des Spektrums mit der IR-Datenbank des IKS

Ergebnisse

1  Stoffliche Zuordnung
Abgleich der gemessenen Spektren mit der vorhandenen IR-Datenbank.

2  Punktgenaue Analyse
Verunreinigungen und Einschlüsse werden gezielt an der auffälligen Stelle gemessen.

3  Kleine Proben und Querschliffe
Analyse von Proben und Schichten, die für die klassische IR-Messung zu klein sind.

4  Vergleich von Proben
Präzise Analyse und Gegenüberstellung einer Vielzahl von Proben.

Anwendung: Analyse von Beschichtungsstoffen und Beschichtungen, Klärung von Verunreinigungen, Schadensfalluntersuchung.

Weiterführend

Arbeitsfeld Beschichtungen Analytik Schadensfallanalyse Normen und Hausverfahren

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