FT-IR-Mikroskopie
Kombination aus Lichtmikroskop und FT-IR-Spektrometer: gezielte Infrarotanalyse ausgewählter Probenstellen.
Kombination aus Lichtmikroskop und FT-IR-Spektrometer: gezielte Infrarotanalyse ausgewählter Probenstellen.
Identifizierung punktueller Verunreinigungen
Analyse kleiner Proben
Untersuchung einzelner Schichten im Querschliff
Diese Untersuchungen sind mit der klassischen IR-Spektroskopie nicht möglich.
Das IR-Mikroskop kombiniert ein klassisches Lichtmikroskop mit einem FT-IR-Spektrometer. Über das Lichtmikroskop werden die Stellen der Probe angefahren, die von besonderem Interesse sind; diese werden unmittelbar anschließend per IR-Messung analysiert.
Die Kombination beider Methoden erlaubt eine präzisere Einstellung und Probenauswahl als beim klassischen IR-Spektrometer.
Ablauf der Messung
1 Stoffliche Zuordnung
Abgleich der gemessenen Spektren mit der vorhandenen IR-Datenbank.
2 Punktgenaue Analyse
Verunreinigungen und Einschlüsse werden gezielt an der auffälligen Stelle gemessen.
3 Kleine Proben und Querschliffe
Analyse von Proben und Schichten, die für die klassische IR-Messung zu klein sind.
4 Vergleich von Proben
Präzise Analyse und Gegenüberstellung einer Vielzahl von Proben.
Anwendung: Analyse von Beschichtungsstoffen und Beschichtungen, Klärung von Verunreinigungen, Schadensfalluntersuchung.
Beschreiben Sie kurz Probe, Werkstoff und Fragestellung. Wir prüfen, ob die FT-IR-Mikroskopie geeignet ist, und nennen Ihnen andernfalls ein alternatives Verfahren.
0351 871-7100 info@iks-dresden.de
Mit uns zu nachhaltigem
Korrosionsschutz
Gostritzer Straße 65
01217 Dresden
Deutschland
Tel.: [+49] (0) 351 871-7100
Fax: [+49] (0) 351 871-7150
Mail: info[at]iks-dresden.de